脉冲色谱法测O2在炭分子筛上的吸附与扩散参数

被引：1

作者：

徐绍平

郭树才

赵泓

机构：

[1] 大连理工大学煤化工研究所

来源：

大连理工大学学报 | 1992年 / 04期

关键词：

分子筛; 物理吸附; 扩散参数; 脉冲应答; 气相色谱;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

建立了脉冲色谱法测炭分子筛填充柱中气体吸附和扩散参数实验装置。考察了不同载气流速下Ｏ２的脉冲应答曲线，并根据炭分子筛二离散孔结构模型计算出其一级绝对矩和二级中心矩。由一级绝对矩求得Ｏ２在炭分子筛上的吸附平衡常数值为４．９１．由二级中心矩求得Ｏ２在炭分子筛中的大孔扩散系数　Ｄｙ和微孔扩散参数　Ｄｘ／Ｒ２ｘ值分别为１．４６１×　１０－４ｃｍ２·ｓ－１和０．１９６ｓ－１．这种动态下测Ｏ２在炭分子筛上的吸附和扩散参数的方法简便而实用。

引用

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