X射线荧光光谱仪的进展

被引:3
作者
陈远盘
机构
[1] 冶金部地质研究所桂林
关键词
射线管; 波长色散; 能量色散谱仪; 处理数据; 仪器; 计算机; 微量元素; 射线理论; 痕量元素; 荧光光谱仪; 荧光分析; 荧光光谱分析;
D O I
10.13595/j.cnki.issn1000-0720.1983.0062
中图分类号
学科分类号
摘要
<正> X射线荧光光谱法具有可以不破坏样品,准确度高,能测定固体、粉末、液体样品中高、中、低和微量元素,分析速度快等主要优点,因此引起人们愈来愈大的重视。自70年代以来,X射线荧光光谱分析法及其仪器已发展到一个新阶段,成为一种必不可少的分析手段。根据美国分析化学杂志的有关综述(1951~1970)和X射线荧光光谱分析文摘(1971~1981)绘制的文献逐年增长情况图(图1)表明,关于这种分析技术的文献数量近几年显著增加。1978和11979年比1977年增加50%,1980和1981年虽稍有减少。但总的趋势仍是增加。据估计近几年文献的增加多半直接与应用有关,关于仪器和改进技术的文献约占20%。
引用
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