质谱同位素稀释法同时测定U3O8中痕量Sm、Gd和Eu

被引：9

作者：

孟宪厚

黄达峰

宋新

机构：

[1] 北京铀矿选冶研究所

来源：

铀矿冶 | 1986年 / 04期

关键词：

质谱同位素稀释法; 痕量分析; 稀土; U3O8;

D O I：

10.13426/j.cnki.yky.1986.04.004

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文以147Sm、151Eu和160Gd作稀释剂,用热表面电离质谱同位素稀释法测定U3O8中痕量Sm、Gd和Eu。一次涂样在同一条样品灯丝上完成10-9-10-10克量级的三个元素测定。方法对Sm、Gd和Eu的检出限（空白值标准偏差的三倍）分别为2.76×10-10g、1.41×10-9g和8.70×10-10g。用该法测定Sm、Gd、Eu的精密度分别为±9.1％、±25％和±5.1％。

引用

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