ICP-AES法直接测定锡锭中的As、Al、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Se、Sb、Zn

被引：6

作者：

刘崇华

钟志光

卞群洲

卢焯冬

贺柏龄

机构：

[1] 广东出入境检验检疫局!广州市珠江新城花城大道号

[2] 广东出入境检验检疫局!广州市珠江新城花城

来源：

关键词：

电感耦合等离子体原子发射光谱; 锡锭; 分段式电荷耦合器件; 基体效应;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

以电荷耦合器件为检测器的全谱直读等离子体光谱仪直接测定锡锭中Ａｓ、Ａｌ、Ｂｉ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｐｂ、Ｓｅ、Ｓｂ、Ｚｎ十种杂质元素的含量。该方法简便、快速且具有比化学法更低的检出限，加标回收试验结果表明，回收率为９２％－１０５％，ＲＳＤ均小于１．５％。

引用

页码：82 / 84

页数：3