温度应力对电连接器接触可靠性的影响

本文主要研究温度应力对电连接器接触可靠性的影响。从接触电阻是衡量电接触可靠性最重要的统计参数这一概念出发,通过在高温、低温、高低温冲击、高低温贯序等环境下的静态及插拔动态试验,得出了接点接触电阻在上述环境下随时间变化的关系曲线。并运用电接触基本概念,从理论上分析了温度应力对接触电阻不稳定的影响因素及失效原因。通过 SEM 和 AES 对接点表面分析,得出了镀银接点在高温插拔时会产生“黑粉效应”这一结论。并试图用金属位错理论来解释接点表面微观变化及失效机理。认为该理论解释与统一场失效理论是一致的。