CCD测量微小位移的研究

被引：2

作者：

王光学，朱自强，胡敏

机构：

[1] 四川大学光电系

来源：

光电工程 | 1994年 / 04期

关键词：

位移测量，金属丝，热膨胀测量，电荷耦合器件;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH822 [位移测量仪表];

学科分类号：

摘要：

介绍ＣＣＤ测量微小位移的一种新方法。这种方法测位移不受待测物体表面状况的影响，分辨率和测量范围可调，适宜测量象金属丝的受力伸长及受热膨胀之类的微小位移，比ＣＣＤ测位移的传统方法优越。

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共 2 条

[1]

CCD应用技术.[M].王庆有;孙学珠主编;.天津大学出版社.1993,

[2]

传感器电路设计手册.[M].张玉龙等编译.中国计量出版社.1989,