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复杂边缘目标的亚像素定位
被引:15
作者
:
余鸿铭
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
中国工程物理研究院应用电子学研究所
余鸿铭
陈兴无
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机构:
中国工程物理研究院应用电子学研究所
陈兴无
万敏
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机构:
中国工程物理研究院应用电子学研究所
万敏
刘志强
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机构:
中国工程物理研究院应用电子学研究所
刘志强
机构
:
[1]
中国工程物理研究院应用电子学研究所
来源
:
计算机仿真
|
2009年
/ 26卷
/ 12期
关键词
:
亚像素;
单像素边缘;
轮廓跟踪;
二次曲线拟合;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP391.41 [];
学科分类号
:
080203 ;
摘要
:
在已有的亚像素边缘定位方法中,从复杂度和运算时间等角度考虑,二次曲线拟合边缘定位是一种较好的方法,然而目前只能应用在直线边缘的亚像素定位中。为此提出了一种针对非直线边缘的复杂图像进行亚像素级边缘定位的算法,依据细化后边缘上前后像素的邻接关系将二次曲线拟合亚像素定位应用到二维情况。实验验证了对直线边缘图片以及具有非直线边缘的实际物体图片进行亚像素级边缘定位的正确性及可靠性。结果表明,不仅可以检测直线,而且对较复杂边缘目标的定位精度达到了亚像素级。
引用
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页码:190 / 192+234 +234
页数:4
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