未找到相关数据
精确测定低对称晶系多晶材料点阵常数的X射线衍射方法
被引：4
作者：
郭常霖
机构：
[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所
来源：
关键词：
X射线衍射，点阵常数测定，低对称晶系;
D O I：
暂无
中图分类号：
O721 [晶体对Ｘ射线、电子和中子的衍射理论];
学科分类号：
0702 ;
070205 ;
0703 ;
080501 ;
摘要：
点阵常数是多晶材料的重要物理参数之一．陶瓷材料多数属非立方晶系化合物．研究低对称晶系点阵常数的测定方法和提高精度的途径对材料研究有重要的意义．本文提出了联立方程法、联立方程外推法、最小二乘法、最小二乘外推法、线对法、线对最小二乘法等六种测定方法和稳定性判别法、抛弃平均法、最小二乘判别法等三种数据处理方法及其适用条件．用本文的测定低对称晶系多晶材料点阵常数的方法可以得到较精确可靠的结果．
引用
收藏
页码：597 / 605
页数：9
相关论文