化学修饰碳糊电极微分脉冲伏安法测定岩矿样品中的钯

被引:10
作者
陈艳玲
郭峰
谭华
范畴
机构
[1] 中国地质大学材料科学与化学工程学院
[2] 中国地质大学材料科学与化学工程学院 武汉
[3] 武汉
关键词
化学修饰碳糊电极; 螯合树脂; 微分脉冲伏安法; 钯;
D O I
暂无
中图分类号
O657.1 [电化学分析法];
学科分类号
070302 ; 081704 ;
摘要
制备了一种含硫脲基螯合树脂的碳糊修饰电极 ,并将其用于矿样中痕量钯的测定。通过实验选定了电极预处理及测定的最佳条件 ,并对影响峰电流的各种因素及电极的性能进行了讨论。在最佳条件下 ,测定钯的浓度范围为 8.66× 1 0 - 9~ 8.66×1 0 - 5mol/L,检出限为 9.84× 1 0 - 10 mol/L
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共 1 条
[1]   碳糊电极新进展 [J].
张正奇 ;
刘辉 ;
黎艳飞 .
分析科学学报, 1998, (01) :81-87