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GIS中支撑绝缘子的表面电荷积聚
被引:6
作者
:
刘志民
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引用数:
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0
机构:
西安交通大学
刘志民
邱毓昌
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0
机构:
西安交通大学
邱毓昌
机构
:
[1]
西安交通大学
来源
:
高压电器
|
1994年
/ 03期
关键词
:
SF6封闭式组合电器;
绝缘子;
电荷;
表面;
沿面放电;
测量;
D O I
:
10.13296/j.1001-1609.hva.1994.03.009
中图分类号
:
TM595 [全封闭组合电器];
学科分类号
:
摘要
:
阐述GIS中支撑绝缘子表面电荷积聚对沿面闪络特性的影响及其闪络机理,分析表面电荷的来源及影响电荷积聚的因素,并介绍利用电容探头测量绝缘子表面电荷分布的方法.
引用
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页码:41 / 46
页数:6
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电介质物理学.[M].陈季丹;刘子玉 主编.机械工业出版社.1982,
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