石英晶体动态电容的测试方法研究

被引：3

作者：

王艳林 ^{[1
]}

王中宇 ^{[2
]}

李东 ^{[1
]}

刘桂礼 ^{[1
]}

机构：

[1] 北京信息科技大学

[2] 北京航空航天大学

来源：

计算机测量与控制 | 2011年 / 19卷 / 01期

关键词：

石英晶体; 动电容; 相位偏移;

D O I：

10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2011.01.029

中图分类号：

TN752.2 [高频振荡器];

学科分类号：

080904 ;

摘要：

相位偏置法作为IEC推荐的石英晶体的动态电容标准测试方法,由于其对π网络制作工艺的严格要求,以及相位差精确测量的困难等原因,使得这种方法的实现比较困难,国内未见这方面的研究成果报道;介绍了相位偏置法测试石英晶体动态电容的方法,首次提出了主动补偿杂散电抗及石英晶体静电容C0所引起的附加相移的方法,降低了对π网络制作工艺的要求,同时也不需要为补偿C0所采用的补偿电路,使得相位偏移法更易于实现并推广使用;实验结果表明,本系统对石英晶体动态电容的测试精度可以达到±5%。

引用

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