基于粒子群算法的故障测试集优化

为加速测试进程和减少测试开销,数字集成电路在生成测试矢量后必须进行故障测试集的优化。文中利用粒子群优化算法生成最小完备测试集,根据故障测试集优化问题的具体特点,构造粒子的表达方式和编码规则,建立粒子群的速度—位置模型;同时为提高优化效率,引入混沌优化算法来初始化粒子群。实验结果表明,在测试生成后,该方法能在较短的时间内生成最小完备测试集,验证了它的实用性和有效性。