未找到相关数据
X射线衍射技术
被引：21
作者：
稻垣道夫
程鸿申
机构：
来源：
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
<正> 1.序言 目前,广泛采用晶格常数c0和微晶尺寸L作为表征碳素材料特性的参量,在我国（日本）,这些物理量的测量已为常规试验,这是由于自动记录式X射线衍射仪的普及,也由于从1962年前后起强调了X射线衍射方法在碳素研究方面的重要性,日本学术振兴会第117委员会制订了晶格常数和微晶尺寸的测定方法。近年来,为了表征碳素材料的特性,除了采用X射线衍射方法外,还采用了许多别的方法,如磁阻、霍耳系数、
引用
收藏
页码：33 / 43
页数：11
相关论文