用调频式串联谐振装置对GIS进行现场耐压试验

被引：9

作者：

陈金祥

林一弘

徐升昊

机构：

[1] 福建省电力试验研究所

[2] 福州电业局

来源：

关键词：

调频式串联谐振; 品质因数; 电晕损耗; 击穿电流;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.2003.04.027

中图分类号：

TM59 [成套电器];

学科分类号：

摘要：

重点分析了调频式串联谐振耐压装置现场试验时可能出现品质因数Q值上不去的原因及相应的防止措施,对该装置耐压试验击穿电流进行了详细的分析,指出其对被试品不会造成进一步的损伤。

引用

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