利用FPGA实现红外焦平面阵列实时非均匀性校正

被引:11
作者
孔令彬
易新建
王典洪
叶敦范
机构
[1] 华中科技大学光电子工程系
[2] 中国地质大学机电工程系
关键词
红外焦平面阵列; 现场可编程门阵列; 非均匀性校正; 红外成像系统;
D O I
暂无
中图分类号
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
摘要
实时非均匀性校正是红外成像的一项关键技术。根据红外焦平面阵列探测元光谱响应的特点和基于参照源的两点温标非均匀性校正理论,提出一种利用FPGA硬件实现红外焦平面阵列实时非均匀性两点校正的新方法。该方法动态范围大、处理速度快,适用于红外成像系统实时图像处理场合。仿真和实验结果证明是可行的。
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共 2 条
[1]   红外热像仪图像处理技术综述 [J].
刘志才 ;
李志广 .
红外技术, 2000, (06) :27-32
[2]  
CPLD技术及其应用.[M].宋万杰等编著;.西安电子科技大学出版社.1999,