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研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法
被引：11
作者：
刘红超
郭常霖
机构：
[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所
来源：
关键词：
粉末衍射;
晶体结构参数;
定量相分析;
择优取向校正;
晶体结构分析;
谱图;
微结构;
土壤结构;
拟合方法;
D O I：
暂无
中图分类号：
O722.1 [];
学科分类号：
0702 ;
070205 ;
0703 ;
080501 ;
摘要：
Ｘ射线粉末衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了Ｘ射线粉末衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的基本原理，综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念
引用
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页数：18
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