同步辐射计算机断层技术光源误差机理分析

被引：3

作者：

汪敏 ^{[1
]}

岑豫皖 ^{[1
]}

胡小方 ^{[2
]}

余晓流 ^{[1
]}

朱佩平 ^{[3
]}

机构：

[1] 安徽工业大学机械工程学院

[2] 中国科学技术大学中国科学院材料力学行为和设计重点实验室

[3] 中国科学院高能物理研究所同步辐射室

来源：

物理学报 | 2008年 / 10期

关键词：

同步辐射; 计算机断层; 光源; 误差;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

基于同步辐射X射线的优越特性及计算机断层重建技术对材料无损检测等优点,同步辐射计算机断层重建技术被广泛应用于很多领域.本文对光源非均匀、过饱和以及过穿透的三种情形所引起同步辐射计算机断层技术重建误差的形成机理进行了分析研究,给出了三种情形所引起误差的基本形式.在此基础上,对这三种误差进行了数值模拟,模拟结果证实了分析的正确性.

引用

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