数字信号处理器抗辐射设计技术研究

被引：7

作者：

邢克飞 ^{[1
]}

张传胜 ^{[1
]}

王京 ^{[1
]}

杨俊 ^{[1
]}

季金明 ^{[2
]}

机构：

[1] 国防科技大学机电工程与自动化学院教研室

[2] 上海航天电子有限公司

来源：

应用基础与工程科学学报 | 2006年 / 04期

关键词：

数字信号处理器; 单粒子效应; 可靠性;

D O I：

10.16058/j.issn.1005-0930.2006.04.016

中图分类号：

TP332 [运算器和控制器（CPU）];

学科分类号：

081201 ;

摘要：

分析了空间辐射效应对高性能数字信号处理器(DSP)的影响,并对单粒子效应引起的DSP故障模式进行了研究,结合工程实践从器件级和系统级两个层次给出了解决数字信号处理器的抗辐射加固设计技术.器件级的加固技术从存储区、控制寄存器、Cache、乘加器等角度给出解决DSP故障的一些有用方法;系统级的抗辐射设计技术则提出一种由高性能DSP和高可靠性的反熔丝FPGA为主要组成部分的“由顶到底”的星载信号处理平台体系结构,并分析了这种结构在提高DSP对抗空间单粒子效应时的优势.文章给出的有关DSP的可靠性设计方法已经在某卫星通信载荷中成功应用,并通过了各种卫星产品要求的环境试验,该抗辐射可靠性设计方法可以为有关航天电子设备的设计提供参考.

引用

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