超高精细度光学腔中低损耗的测量

被引：15

作者：

李利平

刘涛

李刚

张天才

王军民

机构：

[1] 量子光学与光量子器件国家重点实验室

[2] 量子光学与光量子器件国家重点实验室山西大学光电研究所

[3] 太原

[4] 山西大学光电研究所

来源：

物理学报 | 2004年 / 05期

关键词：

超高精细度; F-P腔; 腔衰荡;

D O I：

暂无

中图分类号：

O4-34 [物理测量];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

对高精细度光学腔的微弱损耗进行了测量 .利用不同扫描速度下的腔衰减振荡信号 ,得到了腔的衰荡时间 .通过与相同镜面组成的超短微腔的直接精细常数的测量对比 ,说明了这种方法的可靠性 .本实验通过对所得到的光腔衰荡信号的衰荡时间、衰荡强度变化进行计算处理得到光学腔的精细度为F =(2 .13± 0 .0 9)× 10 5;得到腔镜的反射率为R =0 .999985 2± 0 .0 0 0 0 0 0 6 ,即腔的总损耗为 (2 9.5 0± 1.2 4 )ppm .由于该腔的线宽在 10 0kHz以下 ,远低于一般的半导体激光器线宽 ,因此可以利用此腔来测其线宽 .实验中测得DBR半导体激光器的线宽为 1.4 9MHz.

引用

页码：1401 / 1405

页数：5

共 5 条

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