用衍射光栅进行精密位移检测

被引:3
作者
森山茂夫
郑建栋
机构
关键词
衍射光栅; 反射型; 移动量; 光源; 光栅; 辐射源; 光栅常数; 位移检测;
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
<正> 一、前言激光干涉测长仪能够达到0.1μm以上的检测精度,但该装置有结构复杂、体积大和造价昂贵的缺点:光电式体积小、造价低,但因受产生光衍射现象的光栅栅距的限制,精度在0.5μm以下。而且,用光电式线性刻度进行非接触检测时,测量部分必须非常接近移动的线性刻度,使用上受到限制。
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