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用衍射光栅进行精密位移检测
被引:3
作者
:
森山茂夫
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森山茂夫
郑建栋
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郑建栋
机构
:
来源
:
国外计量
|
1984年
/ 06期
关键词
:
衍射光栅;
反射型;
移动量;
光源;
光栅;
辐射源;
光栅常数;
位移检测;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 一、前言激光干涉测长仪能够达到0.1μm以上的检测精度,但该装置有结构复杂、体积大和造价昂贵的缺点:光电式体积小、造价低,但因受产生光衍射现象的光栅栅距的限制,精度在0.5μm以下。而且,用光电式线性刻度进行非接触检测时,测量部分必须非常接近移动的线性刻度,使用上受到限制。
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页码:11 / 13+26 +26
页数:4
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