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不规则形体面积的CCD测量研究
被引:9
作者
:
关胜晓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥工业大学机电一体化研究室
关胜晓
机构
:
[1]
合肥工业大学机电一体化研究室
来源
:
仪表技术与传感器
|
1998年
/ 11期
关键词
:
线阵CCD,测量,面积,单片机;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP274 [数据处理、数据处理系统];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
080402 ;
081002 ;
0835 ;
摘要
:
不规则的薄的形体,其面积的测量比较复杂,通常在要求快速性的情况下,往往无能为力。本文介绍一种应用线阵CCD测量面积的原理和方法,由单片机实现数据的采集、处理和测量过程的控制,简化对不规则形体面积的分割、积算过程。研究表明,测量精度得到提高,测量效率成倍增加。适合各种场合的面积测量。
引用
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页数:4
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CCD技术及应用.[M].蔡文贵等编著;.电子工业出版社.1992,
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