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组合电路门时滞故障的可测性分析
被引:2
作者
:
王勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学CAT室
王勇
机构
:
[1]
电子科技大学CAT室
来源
:
电子科技大学学报
|
1999年
/ 01期
关键词
:
门时滞故障,可测性测度,可控制性,可观测性;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN470.7 [];
学科分类号
:
摘要
:
根据时滞故障测试的特点,定义了一种门时滞故障的可测性测度(即上升沿和下降沿门时滞故障的可控制性和可观测性),并提出了相应的计算方法,为基于门时滞故障的电路可测性论计提供了理论依据。
引用
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页码:58 / 61
页数:4
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