组合电路门时滞故障的可测性分析

被引:2
作者
王勇
机构
[1] 电子科技大学CAT室
关键词
门时滞故障,可测性测度,可控制性,可观测性;
D O I
暂无
中图分类号
TN470.7 [];
学科分类号
摘要
根据时滞故障测试的特点,定义了一种门时滞故障的可测性测度(即上升沿和下降沿门时滞故障的可控制性和可观测性),并提出了相应的计算方法,为基于门时滞故障的电路可测性论计提供了理论依据。
引用
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