介电测井分层能力及浸入带和泥浆影响的理论研究——(Ⅱ)浸入影响与探测深度

本文是前文的续篇。前文考察了分层能力和围岩影响;本文利用纵向三层介质电磁场的严格解计算均匀浸入带和井筒泥浆对介电测井的影响。为了定量分析方便,引入了“浸入影响”和“泥浆影响”两个概念。计算结果表明,干涉的影响是很大的,只有考虑非均匀浸入带才能定量确定介电测井的探测深度,但均匀浸入带模型可以估计出它的下限。本文给出了估计探测深度下限的公式,计算结果还表明:井筒泥浆的影响并不是在任何情况下都可以忽略的,当电极矩较小、频率较低或地层电导率较大时,泥浆的影响将显著增大。