复杂电子系统强电磁脉冲效应研究

被引：21

作者：

柴焱杰 ^{[1
]}

孟丁 ^{[2
]}

李建军 ^{[3
]}

李钊 ^{[4
]}

机构：

[1] 第二炮兵工程学院

[2] 第二炮兵驻厂军事代表室

[3] 第二炮兵士官学校

[4] 第二炮兵驻石家庄地区军事代表室

来源：

无线电工程 | 2011年 / 41卷 / 01期

关键词：

复杂电子系统; 强电磁脉冲; 效应;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN07 [无线电产品的维修、保养];

学科分类号：

080901 ;

摘要：

随着大规模集成电路的发展,电子设备的结构越来越微型化、复杂化,复杂电子系统抗电磁脉冲容限不断降低,在强电磁脉冲的干扰下极易造成系统的性能降级、损伤甚至爆炸。针对强电磁脉冲的破坏作用,以高空核爆电磁脉冲(HEMP)为例,分析强电磁脉冲的特性和研究强电磁脉冲效应的数值计算方法,并基于时域有限差分法(FDTD)仿真分析了双层金属腔体在HEMP平面波作用下的孔缝耦合过程,得到了有利于指导腔体电磁防护设计的结论。

引用

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