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IGBT功率器件工作中存在的问题及解决方法
被引:13
作者
:
潘星
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机构:
武汉大学电气工程学院
潘星
刘会金
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机构:
武汉大学电气工程学院
刘会金
机构
:
[1]
武汉大学电气工程学院
[2]
武汉大学电气工程学院 湖北武汉
来源
:
电力自动化设备
|
2004年
/ 09期
关键词
:
IGBT;
di/dt;
软开关技术;
吸收电路;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN322.8 [];
学科分类号
:
0805 ;
080501 ;
080502 ;
080903 ;
摘要
:
绝缘栅双极型晶体管IGBT(InsulatedGateBipolarTransistor)因其开关速度快、工作频率高、控制方便等优点得到广泛应用,但随着电力电子技术的高频、大功率化发展,开关工作时会造成较高损耗和严重的电磁干扰,甚至元件本身也会因过压、过流问题造成损坏。从IGBT的内部结构特点出发,讨论了IGBT工作中上述问题存在的原因,整理了目前国内外常用的一些处理措施,包括软开关技术、吸收电路技术以及研制新的开关元件等。软开关通过控制电压、电流状态,使其在开关过程中保持不变,抑制di/dt,du/dt;吸收电路是吸收开关过程中di/dt,du/dt产生的多余能量,然后反馈至其他地方。而采用新的开关元件集成门极换流晶闸管IGCT(IntegratedGateCommutatedThyristor),从开关本身出发解决问题是个有潜力的方案。
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