基于FPGA和ARM9的电压波动与闪变测试仪设计

被引:4
作者
张克明
机构
[1] 陕西工商职业学院
关键词
电压波动; 闪变; 现场可编程门阵列; ARM9; 快速傅里叶变换;
D O I
10.19651/j.cnki.emt.2013.05.019
中图分类号
TM932 [数字式测量及仪表];
学科分类号
080802 ;
摘要
以嵌入式ARM9控制器和FPGA为处理核心,设计了手持式的电压波动与闪变测试仪,可以同时测量4路交流电压信号的短时闪变值Pst和长时闪变值Plt。为了简化运算过程,对电压每半周波进行一次方均根值运算,并对得到的方均根值序列进行快速傅里叶变换,求解出各频率下对应的瞬时闪变值,并利用概率大值法求解短时闪变。通过在FPGA中的2组存储器交替接收数据,利用乒乓方式实现32位的FFT算法,可大幅提高运算速度与精度。实验结果表明,本测试仪对于方均根值计算精度达到2‰,闪变测量精度达到2%。
引用
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页码:87 / 90+96 +96
页数:5
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