薄膜萃取法在X射线荧光光谱分析中的应用——地质样品中痕量稀土分量测定

<正> 本实验室制备了一种6μMylar膜为衬底,在上面再覆盖一层PMBP的薄膜。在该薄膜上可一次完成常规的分离和富集过程,并制备出适合于X荧光测定的薄试样,因而大大加快了分析速度。同时该薄膜萃取剂还可应用于其它元素的分析上。本文对PMBP浓度、酸度、最大萃取量、溶剂,含胶量及Mg+2、Ca+2、Al+8、Si+4、Fe+8等干扰离子进行了试验并选出了最佳条件。本法适用于稀土总量为几十到几百微克的测定。除了钇检测限为1—2 ppm外,其它稀土均为0.0x—0.xppm（100秒）,方法的精密度为10—30%。一个试样15个稀土测定时间约30分钟。标样MRG-1,So-1,So-3,So-4,Sy-2,GSD-1,GSD-3分析结果及球粒陨石标准化标式图表明,该法能满足地球化学研究工作的需要。