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测长中采用微处理器的电细分技术(英文)
被引：2
作者：
古乐天
机构：
[1] 电子工业部第五研究所
来源：
关键词：
微处理器;
细分技术;
length;
长度测量;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
本文介绍在长度测量中使用微处理器进行电细分技术的原理及软、硬件。这项技术适用于不同性质的光电长度测量装置。由于细分次数取决于软件,故细分范围很宽。实验结果表明,细分误差在0.34～1.65μm范围内。
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