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极小子样高可靠(长寿命)电子设备的可靠性验证
被引：4
作者：
侯先荣
机构：
来源：
关键词：
高可靠性;
可靠性增长试验;
加速寿命试验;
极小化——极小子样-;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN97 [电子对抗（干扰及抗干扰）];
学科分类号：
080904 ;
0810 ;
081001 ;
081002 ;
081105 ;
0826 ;
082601 ;
1104 ;
摘要：
论述了极小子样高可靠(长寿命)电子设备可靠性验证的困难及国内外对其研究的发展动态;提出了一种工程上实用的验证方法;并给出了一个应用实例。
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