扫描成像光谱仪和地物光谱仪在单叶尺度上的对比研究

被引：6

作者：

张东彦 ^{[1
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宋晓宇 ^{[2
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马智宏 ^{[2
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杨贵军 ^{[2
]}

黄文江 ^{[2
]}

王纪华 ^{[1
,2
]}

机构：

[1] 不详

[2] 浙江大学农业遥感与信息技术应用研究所

[3] 不详

[4] 国家农业信息化工程技术研究中心

[5] 不详

来源：

中国农业科学 | 2010年 / 11期

关键词：

扫描成像光谱仪; 高光谱; 植被指数; 冬小麦;

D O I：

暂无

中图分类号：

S127 [遥感技术在农业上的应用];

学科分类号：

082804 ;

摘要：

【目的】对图谱合一的冬小麦叶片高光谱数据进行分析,验证扫描成像光谱仪(PIS)在近地使用的可行性。【方法】利用扫描成像光谱仪和地物光谱仪(ASD)获取冬小麦关键生育期的叶片光谱信息,比较两仪器在450—850nm获得的光谱曲线;选取15种植被指数,对两仪器获得的光谱值进行植被指数运算,并将结果与叶片叶绿素含量进行相关分析。【结果】在冬小麦的不同生育期,扫描成像光谱仪和地物光谱仪获得叶片的反射率曲线趋势一致,在对应的波段均表现出相应的波峰、波谷、高反射区等特征,但扫描成像光谱仪获得的反射率值都高于地物光谱仪。对比两仪器15种植被指数和叶绿素含量之间的相关系数得出,扫描成像光谱仪获得的相关系数普遍高于地物光谱仪。【结论】扫描成像光谱仪和地物光谱仪获取的数据有相同的曲线特征,说明扫描成像光谱仪获得的数据是可靠的;植被指数与叶绿素含量的相关系数比较结果表明,扫描成像光谱仪获得的图谱合一的数据在近地遥感研究中有很大的优势。

引用

页码：2239 / 2245

页数：7

共 17 条

[1] 基于成像光谱仪的冬小麦苗期冠层叶绿素密度监测 [J].