IEEE 1149.1标准与边界扫描技术

被引：17

作者：

于宗光

机构：

[1] 中国电子科技集团公司第研究所江苏无锡

来源：

关键词：

IC; 可测性; 边界扫描; 内建自测试; 系统集成;

D O I：

10.16257/j.cnki.1681-1070.2003.05.012

中图分类号：

TN402 [设计];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略。

引用

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