合成绝缘子材料的TSC试验研究

被引：16

作者：

梁英 ^{[1
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李成榕 ^{[1
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丁立健 ^{[1
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屠幼萍 ^{[1
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赵林杰 ^{[1
]}

杨堃 ^{[1
]}

刘富家 ^{[2
]}

杨铁军 ^{[2
]}

机构：

[1] 不详

来源：

电工技术学报 | 2006年 / 02期

关键词：

合成绝缘子; 热刺激电流; 老化;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2006.02.003

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

通过采用热刺激电流法对合成绝缘子材料进行热刺激电流(TSC)的探索性对比测试,力图探索热刺激电流法在评价合成绝缘子特性中的应用可能性。文中对比了同一厂家的两批合成绝缘子试样的TSC特性,初步的试验发现,新旧合成绝缘子之间的TSC测试结果是明显不同的,结合试样的憎水性试验以及微观结构的分析,表明TSC测试结果在一定程度上能够与合成绝缘子材料的老化联系起来。通过深入系统的研究合成绝缘子的TSC特性和合成绝缘子材料的老化特性之间的关系,将能够为合成绝缘子老化特性及老化程度的评价提供新的方法。

引用

页码：13 / 16+26 +26

页数：5

共 5 条

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