线阵CCD位移测试技术的误差分析

被引：9

作者：

蒋剑良

孙雨南

机构：

[1] 北京理工大学光电工程系

来源：

计量技术 | 2002年 / 07期

关键词：

线阵CCD; 位移测量; 误差分析;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN386.5 [电荷耦合器件];

学科分类号：

摘要：

利用线阵CCD进行位移测量的两种方法 :边缘检测法和中心检测法 ,其相关的误差来源是不同的。根据静态位移测量和动态位移测量两种情况 ,从原理上对边缘检测法和中心检测法的测量误差进行了分析并对两种方法进行比较 ,分析了应用中存在的局限性。

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