基于图像处理的光电传感器光路检测与调整方法研究

提出了一种基于图像处理的反射式强度调制型光电传感器光路调整方法。考虑了光源光阑等器件对光路的影响,利用面阵CMOS器件采集传感器出射光斑的图像,并通过图像处理的方法分别计算光斑的几何中心与能量中心,得到偏心误差值,以此为依据调整传感器光路,达到改善光斑光强分布的目的。文中对测量系统、调整方法、光斑参数计算等做了详细说明,并给出了调整前后的光斑图像。试验结果表明,这种方法的测量原理简单、测量精度高,可以有效地改善传感器的光强分布状况。