基于紫外光脉冲检测技术的绝缘子电晕特性研究

被引:24
作者
王灿林 [1 ]
王柯 [1 ]
王黎明 [2 ]
关志成 [2 ]
廖永力 [1 ]
机构
[1] 清华大学电机工程与应用电子技术系
[2] 不详
关键词
复合绝缘子; 光电倍增管; 水珠电晕; 紫外光;
D O I
10.13334/j.0258-8013.pcsee.2007.36.008
中图分类号
TM853 [绝缘配合];
学科分类号
摘要
首先介绍了利用光电倍增管检测绝缘子电晕产生的紫外光来研究绝缘子电晕特征的研究方法。检测实验表明,电晕紫外光脉冲与电流脉冲有着很好的对应关系,可以采用紫外光作为电晕放电检测特征量。利用该方法检测绝缘子电晕时发现,对于干燥的绝缘子,绝缘子电晕光脉冲中仅含有正电晕脉冲,而当绝缘子表面存在水珠时,光脉冲中明显检测到了负电晕脉冲的存在。该文同时开发了一个自动判断负电晕的时间间隔程序,它能反映负电晕脉冲在电晕中的分布情况。大量的试验证明,如果水珠电晕存在时,绝缘子将会产生大量的负电晕,这也说明水珠将会加剧负电晕,引发负脉冲幅值更快的增长。
引用
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