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模拟系统的故障诊断与可靠性设计.[M].杨士元编著;.清华大学出版社.1993,
基于改进粒子群算法的模拟电路测试点选择
被引：10
作者：
张超杰
贺国
梁述海
陈国钧
机构：
[1] 海军工程大学船舶与动力学院
关键词：
模拟电路;
故障诊断;
粒子群优化算法;
测试点;
故障字典;
D O I：
10.13245/j.hust.2009.11.020
中图分类号：
TN710 [电子电路];
学科分类号：
摘要：
针对模拟电路测试点选择的特点,对粒子群算法进行改进,提出利用粒子群算法与整数编码故障字典相结合的方法进行测试点选择,给出了该算法的模型和应用于模拟电路测试点选择的一般规律.首先根据各测试点的数据建立整数编码故障字典,然后利用改进的粒子群算法选取最优测试点.将该方法应用于实际模拟滤波器的测试点选择,并通过统计实验的方法与已有的测试点选择方法进行比较,结果表明:利用该方法很容易求出模拟电路的全局最优测试点,且需要设置的参数较少.
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