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精密X射线结晶学
被引：2
作者：
竺迺珏
机构：
[1] 中国科学院化学研究所北京美国纽约州立大学化学系进修学习
来源：
关键词：
D O I：
10.14159/j.cnki.0441-3776.1982.01.002
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
<正> 本文介绍如何用精密X射线结晶学的方法从晶体物质中电子的密度分布来研究物质的结构。
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