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互耦影响下天线电参数的测量
被引：2
作者：
沈国连
机构：
[1] 中国航空工业总公司第６１５所
来源：
关键词：
天线,互耦因子,增益,雷达散射截面;
D O I：
暂无
中图分类号：
V243.4 [航空天线];
学科分类号：
08 ;
0825 ;
摘要：
针对天线测量中的互耦影响，提出了一种计量方法；推导出一组用于互耦影响下测量天线增益、雷达散射截面等电参数的计算公式，定义了互耦因子。
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