基于分布估计算法的组合电路测试生成

被引：2

作者：

赵中煜

彭宇

彭喜元

机构：

[1] 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系

来源：

电子学报 | 2006年 / S1期

关键词：

分布估计算法; 自动测试生成; 组合电路;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN707 [测试、检验];

学科分类号：

摘要：

基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法.本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于,组合电路测试生成过程中存在高阶、长距离模式,从而导致遗传算法容易陷入局部极值或早熟收敛.为此,本文首次提出使用分布估计算法生成测试矢量.该方法使用联合概率分布捕捉电路主输入之间的关联性,从而避免了高阶、长距离模式对算法的影响,缓解了算法早熟收敛问题.针对ISCAS-85国际标准组合电路集的实验结果表明,该方法能够获得较高的故障覆盖率.

引用

页码：2384 / 2386

页数：3

共 6 条

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