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萃取色谱分离 - 电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铽中痕量稀土杂质的研究
被引:5
作者
:
曹心德
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
曹心德
尹明
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机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
尹明
李冰
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机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
李冰
张岩
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机构:
地矿部岩矿测试技术研究所
张岩
机构
:
[1]
地矿部岩矿测试技术研究所
来源
:
岩矿测试
|
1998年
/ 02期
关键词
:
萃取色谱分离,电感耦合等离子体质谱,高纯氧化铽,稀土杂质;
D O I
:
10.15898/j.cnki.11-2131/td.1998.02.002
中图分类号
:
P624.4 [采样与加工];
学科分类号
:
摘要
:
考察了源于基体Tb的多原子离子质谱干扰及基体Tb对稀土杂质测定信号的影响,研究了P507 HCl萃取色谱体系分离高纯Tb4O7基体与痕量稀土杂质的条件,采用Re内标补偿直接测定与分离基体后测定相结合的方式,建立了分析高纯Tb4O7中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体质谱(ICP MS)法,检出限为5~21ng/L,加标回收率为90%~109%,3次测量的相对标准偏差为1.3%~6.5%,分离周期近9h。方法可用于纯度(质量分数,w)为99.99%~99.9999%的Tb4O7中痕量稀土杂质的分析。
引用
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