共 2 条
[1]
可测性设计技术.[M].陈光〓;潘中良编著;.电子工业出版社.1997,
[2]
数据域测试及仪器.[M].张世箕;陈光〓编;.电子工业出版社.1990,
数字电路的测试生成方法
被引：2
作者：
潘中良
张光昭
机构：
[1] 中山大学无线电电子学系
来源：
关键词：
数字电路，故障检测，测试生成，算法性能分析;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的测试已成为集成电路设计与生产的重要组成部分．讨论了电路的测试及故障检测中的一些问题，对数字电路测试生成的主要算法的性能进行了详细分析，并研究了电路测试技术的发展趋势
引用
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页数：4
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