RISC结构的IP核验证与测试

被引：2

作者：

金西

丁文祥

贠超

机构：

[1] 中国科技大学物理系微电子教研室

来源：

半导体技术 | 2003年 / 11期

关键词：

RISC结构; IP核; 验证与测试;

D O I：

10.13290/j.cnki.bdtjs.2003.11.012

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

摘要：

以一个8位的RISC体系的CPU核为例,介绍了如何将IC设计中的IPCore和FPGA两项技术结合起来,并给出了IP核模块的验证与测试的方法。

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页数：4

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共 2 条

[1]

VHDL与复杂数字系统设计.[M].金西编著;.西安电子科技大学出版社.2003,

[2]

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