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录像带的表面形貌和微摩擦特性
被引:6
作者
:
论文数:
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机构:
王吉会
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机构:
路新春
论文数:
引用数:
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机构:
温诗铸
机构
:
[1]
清华大学,清华大学,清华大学
来源
:
材料研究学报
|
1997年
/ 04期
关键词
:
表面形貌;
微观摩擦;
原子力/摩擦力显微镜;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TQ58 [磁性记录材料工业];
学科分类号
:
080501
[材料物理与化学]
;
摘要
:
利用原子力/摩擦力显微镜研究了Sony和国产画王录像带的表面形貌、纳米级载荷下的微摩擦性能结果表明:画王带的粗糙度和粒度均与Sony带相当,但其摩擦系数高于Sony带;摩擦力图与表面形貌、形貌斜率图间有较好的对应关系,微摩擦力随载荷、表面形貌斜率的增加而线性增大
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激光检测摩擦力显微镜的研制
[J].
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激光检测摩擦力显微镜的研制
[J].
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