IBIS-S系统检测方法研究

被引：16

作者：

邢诚 ^{[1
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徐亚明 ^{[1
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周校 ^{[1
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王鹏 ^{[1
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机构：

[1] 武汉大学测绘学院

[2] 精密工程与工业测量国家测绘地理信息局重点实验室

来源：

基金：

中央高校基本科研业务费专项资金资助;

关键词：

IBIS-S; 变形监测; 干涉测量; 精度检测;

D O I：

10.14188/j.2095-6045.2013.04.011

中图分类号：

P225 [电磁波测距和基线测量];

学科分类号：

摘要：

介绍了利用地基干涉测量技术的建筑物微变形监测IBIS-S系统的工作原理及关键技术,根据生产商给定的系统精度标称参数,设计了相应的精度检测方案,通过实验验证了IBIS-S系统对目标物变形量监测所能达到的精度及分辨率。实验表明,IBIS-S系统可以实现高精度的建筑物、桥梁等目标物的微变形监测。

引用

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