互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究

被引：10

作者：

刘智 ^{[1
]}

翟林培 ^{[2
]}

郝志航 ^{[2
]}

机构：

[1] 长春理工大学电信工程学院

[2] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学研究部

来源：

中国激光 | 2007年 / 01期

关键词：

成像系统; 互补金属氧化物半导体图像传感器; 亚像元细分; 细分精度; 填充率;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

通过图像处理方法,用软件的方式(亚像元细分)对目标进行定位是一个可有效提高测量精度的途径。主要对互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器亚像元细分精度的测试方法和测试结果进行研讨。利用压电陶瓷(PZT)精密快扫振镜(FSM)和基于互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的数字相机构建了实验系统,对该互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的亚像元细分精度进行了实验研究。结果表明,OV7620的质心定位精度达到0.17pixel,即能够实现六细分,互补金属氧化物半导体图像传感器具有实现亚像元细分的能力,能够应用于以光斑质心检测为手段的测量系统中。

引用

页码：118 / 124

页数：7

共 6 条

[1] 星敏感器中星图图像的星体细分定位方法研究 [J].