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采用微处理器的光栅测长仪
被引:4
作者
:
古乐天
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
光华无线电仪器厂副总工程师
古乐天
机构
:
[1]
光华无线电仪器厂副总工程师
来源
:
电子测量技术
|
1982年
/ 05期
关键词
:
光栅测长;
标准性;
微处理器;
模数变换器;
误差分析;
数值分析;
微处理机;
光电信号;
光栅尺;
测长仪;
纱线测试仪器;
D O I
:
10.19651/j.cnki.emt.1982.05.003
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
研制成一种以微处理器为核心的,分辨力可达0.1微米的光栅测长仪。软、硬件的使用量都相当节省。进行了误差分析,导得模数变换器的位数影响,光电信号直流电平变动误差的关系式。实践结果表明,这种设计方案对制造质量较差的光栅尺,质量较差的光电信号,均有较好的适应能力。并可预计,这种设计思想,对一切能提供两相正余弦信号的位移编码器,如磁栅,同步感应器、激光干涉仪等都是适用的。
引用
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页数:6
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