随机数检验程序系统SUTEST

被引：2

作者：

张建中

机构：

[1] 中国科学院计算中心北京

来源：

计算物理 | 1989年 / 03期

关键词：

检验程序; 程序系统; 计算机系统; 统计检验方法; 乱数; 随机数; SUTEST; 数字序列; 临界概率; 检脸; 检验表; 统计量;

D O I：

10.19596/j.cnki.1001-246x.1989.03.013

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

对计算机上给出的（0,1）上的数字序列 r1,r2,…,ri,…,rN 能否当做标准均匀分布的随机数用于Monte Carlo模拟计算,是Monte Carlo方法研究及其实际应用中的一个极其重要而又十分难于解决的问題。统计软件包SASD提供的随机数检验程序系统SUTEST,对数字序列{ri|0i<1,i=1,2,…,N}给出十二类、二十七种不同的统计检验方法,由六十一个统计量从均匀性、随机性、独立性和统计模拟计算等许多不同的方面,为随机数检验提供了完整、配套的统计检验方法和有效可行的算法。给出了便于使、易于移植的FOR-TRAN源程序。在上述意义下,从统计上和实际应用上解决了这一问题

引用

页码：371 / 377

页数：7