新一代手提式多元素X荧光仪在地质普查中的应用

被引：19

作者：

林延畅

葛良全

赖万昌

机构：

[1] 成都理工大学应用核技术与自动化工程学院

[2] 成都理工大学应用核技术与自动化工程学院四川成都

[3] 四川成都

来源：

物探与化探 | 2002年 / 04期

关键词：

原位X荧光分析; 干扰因素与校正; 地质普查; 异常追索;

D O I：

暂无

中图分类号：

P631.63 [];

学科分类号：

0818 ; 081801 ; 081802 ;

摘要：

现场X射线荧光分析的主要影响因素是基体效应、湿度效应和不平度效应等。基于室内、野外大量实验 ,结合软件技术 ,在新一代手提式多元素X荧光仪中 ,综合运用强度影响系数法、特散比及经验系数法 ,使多元素现场X荧光快速分析技术取得实用性进展。地质大调查中 ,在样品多元素快速测试 ,野外土壤、岩石的原位分析 ,异常追索查证等方面的应用 ,充分体现出轻便、快速、高效、低投入的效果

引用

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