粉末压片-X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素

被引：52

作者：

李小莉 ^{[1
]}

张勤 ^{[2
]}

机构：

[1] 天津地质矿产研究所

[2] 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所

来源：

冶金分析 | 2013年 / 33卷 / 07期

关键词：

波长色散X射线荧光光谱; 稀土元素; 粉末压片; 土壤; 水系沉积物; 岩石;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.2013.07.005

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法]; X830.2 [监测分析方法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ; 0804 ; 082803 ;

摘要：

采用粉末样品压片制样,使用波长色散X射线荧光光谱仪对土壤、水系沉积物和岩石样品中15个稀土元素(La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y)进行测定。重点探讨了15个稀土元素的测量条件,如分析线、分析晶体,基体效应和谱线重叠干扰校正。使用60余个土壤、水系沉积物和岩石标样建立校准曲线,采用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,并用多元回归准确扣除稀土元素谱线重叠干扰。重稀土元素的检出限多在0.2μg/g以下。对土壤标准样品进行精密度考察,15个稀土元素测量结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.74%～17%。对土壤、水系沉积物和岩石标准样品进行分析,测定值和认定值一致。

引用

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