芒秆表皮层的SEM-EDAX研究

被引：6

作者：

邱玉桂

林鹿

施明哲

机构：

[1] 华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室

[2] 信息产业部第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室

来源：

造纸科学与技术 | 2002年 / 01期

基金：

广东省自然科学基金;

关键词：

芒秆; 表皮层; SEM-EDAX法; 矿质元素; 复合材料;

D O I：

暂无

中图分类号：

TS711 [];

学科分类号：

082201 ; 082903 ;

摘要：

用SEM -EDAX法研究芒秆茎部表皮层的结构及元素组成 ,并对茎部纤维、薄壁细胞及叶部的元素组成进行测定。结果表明 ,芒秆茎杆表皮层的外表面仅由C、O、Si、K等元素组成 ,Si含量高达 6 0 % ,Si的粒度小且分布较均匀 ;表皮层是由C、O、Si、Al、Ca、K、Fe、Na等元素构成的结构复杂的复合材料层 ,外层角化程度较高 ,Si含量较低 ;里层的角化程度较低 ,但Si含量最高。表皮层的结构及形成机理有待进一步研究。薄壁细胞及叶部中含矿质元素的种类最多 ,含量也高 ,宜在备料时尽量除去以提高原料含量

引用

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共 5 条

[1] 马尾松KP-AQ未漂浆中金属离子滞留性能的研究 [J].